Espectrometria de fluorescência de raio X (do inglês X-ray Flourescence Spectrometry) é um método analítico para determinação da composição química (multi-elemento em simultâneo) em todos os tipos de materiais.
Os materiais podem ser analisados no estado maciço, líquido, em pó (pastilhas prensadas ou pérolas fundidas) ou outras formas. Esta técnica também pode, por vezes, ser usada para determinar a espessura e composição de camadas e/ou revestimentos.
O método é rápido, exacto e não destrutivo e geralmente apenas requer o mínimo de preparação de amostras. Muitas amostras podem ser analisadas com pouco ou nenhum pré-tratamento. As aplicações são vastas e incluem-se em vários campos da ciência, pesquisa e controlo de qualidade. Entre eles, podem destacar-se os metais, cimentos, óleos, polímeros, indústria alimentícia, exploração mineira, mineralogia e geologia, análises ambientais a águas e resíduos, e fármacos.
A precisão e reprodutibilidade da análise de XRF são bastante elevadas. Resultados muito precisos são possíveis quando existem boas amostras padrão disponíveis, contudo também é possível em aplicações onde padrões específicos não possam ser encontrados.
Os elementos que podem ser analisados vão do Flúor ao Urânio e a gama de concentrações varia de 100% a níveis de sub-ppm (análise de elementos traço). Elementos com elevado número atómico apresentam melhores níveis de detecção de elementos de baixo valor atómico.
O equipamento usado é o PANalytical AXIOS-Advanced WDXRF, com comprimento de onda dispersivo; equipado com um espectrómetro com alvo de ródio; fonte de raios-X SST-MAX; com saída de 4kW e que pode ser operado a 160 mA.
O AXIOS usa o software SuperQ, para análises com padrões-base. Este possui um módulo de software de padrões mais limitado (OMNIAN) para fornecer a composição completa e quantificação da maioria dos tipos de materiais desconhecidos.
Para preparação de amostras, o laboratório possui uma variedade de ferramentas, incluindo prensas, moinhos, fornos e máquinas de pérolas.